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電子信息制造業(yè)穩(wěn)增長方案來了!

每日經濟新聞 2025-09-04 22:27:13

每經記者|張蕊    每經編輯|陳旭    

9月4日,工業(yè)和信息化部、市場監(jiān)督管理總局聯合印發(fā)《電子信息制造業(yè)2025~2026年穩(wěn)增長行動方案》(以下簡稱《方案》)。

《方案》提出,2025~2026年,主要預期目標是:規(guī)模以上計算機、通信和其他電子設備制造業(yè)增加值平均增速在7%左右,加上鋰電池、光伏及元器件制造等相關領域后電子信息制造業(yè)年均營收增速達到5%以上。到2026年,預期實現營收規(guī)模和出口比例在41個工業(yè)大類中保持首位,5個省份電子信息制造業(yè)營收過萬億,服務器產業(yè)規(guī)模超過4000億元,75英寸及以上彩色電視機國內市場滲透率超過40%,個人計算機、手機向智能化、高端化邁進。

推動電子整機高端化

在促進產業(yè)轉型升級,深化構建高質量供給體系方面,《方案》提出要推動電子整機高端化,提升產品供給水平。

其中提到,促進人工智能終端邁向更高水平智能創(chuàng)新,推動智能體與終端產品深度融合,制定人工智能終端智能化分級方法和標準,鼓勵各地推動人工智能終端創(chuàng)新應用。同時,加快提升新一代整機裝備供給能力,推動5G/6G關鍵器件、芯片、模塊等技術攻關,加強6G技術成果儲備。

賽迪顧問人工智能與大數據研究中心常務副總經理鄒德寶在接受《每日經濟新聞》記者書面采訪時表示,當前人工智能終端尚未出現顛覆性應用,這受制于多重因素。一是技術標準碎片化。大模型、智能體、智能芯片技術路線分散,導致軟硬件兼容適配成本高。這種碎片化導致整機、模型、App(手機軟件)需面向多種類芯片和操作系統開展開發(fā)適配,資源重復投入嚴重。二是應用場景創(chuàng)新不足?,F有應用多為功能疊加而非范式革新。當前AI終端發(fā)展仍集中在對現有功能的改進,缺乏類似移動支付對消費模式的重塑力。三是用戶體驗斷層,交互復雜度與實用性失衡。部分產品過度追求技術展示,如多模態(tài)交互設計復雜但實際利用率低,用戶在使用中常遇到答非所問、操作繁瑣等問題。四是產業(yè)生態(tài)割裂。終端企業(yè)與應用開發(fā)者在數據歸屬、商業(yè)模式上競爭激烈,形成了信息孤島。

在鄒德寶看來,結合技術成熟度與市場需求,“殺手級”應用在以下領域具有爆發(fā)潛力:一是沉浸式交互場景。人工智能與AR/VR的融合可能成為突破口。二是健康醫(yī)療領域。人工智能驅動的個性化健康管理系統可能顛覆傳統醫(yī)療模式。通過可穿戴設備實時監(jiān)測生理指標,結合大模型進行疾病風險預測和干預建議,未來或實現“家庭醫(yī)生”功能。三是工業(yè)元宇宙場景。智能終端與數字孿生技術結合,可實現生產全流程的實時監(jiān)控與優(yōu)化。

加快重大項目建設

在推動科技創(chuàng)新與產業(yè)創(chuàng)新融合,建設現代化產業(yè)體系方面,《方案》提到,加快重大項目建設,強化撬動作用。

其中提到,加強CPU、高性能人工智能服務器、軟硬件協同等攻關力度,開展人工智能芯片與大模型適應性測試。適度超前部署新型基礎設施建設,提升各地已建基礎設施運營管理水平,強化服務器、芯片和關鍵模塊的兼容適配。

《方案》提出開展人工智能芯片與大模型適應性測試,主要是出于哪些考慮?

對此,鄒德寶表示,首先是技術適配的必要性。在性能優(yōu)化需求方面,不同架構的AI芯片對大模型的支持存在顯著差異。例如,ASIC(專用集成電路)芯片在特定模型推理上能效比突出,但靈活性不足。GPU(圖形處理器)雖通用性強,但訓練大模型時功耗高達千瓦級。通過測試可針對芯片特性優(yōu)化模型架構,例如在NPU(神經網絡處理器)上采用低秩分解技術,可將矩陣運算量減少40%。

“在能效比平衡方面,端側AI對能耗敏感。”鄒德寶說,例如,手機端部署10B參數模型需將功耗控制在500毫瓦以內,而當前主流SoC(系統級芯片)的AI算力密度僅為20TOPS/W(衡量處理器能效的指標,指在1瓦功耗下處理器每秒能完成的萬億次運算)。測試可推動模型量化與芯片架構創(chuàng)新,使能效比提升3~5倍。在兼容性保障方面,國產芯片與開源框架存在適配鴻溝,通過測試可完善工具鏈,實現一次開發(fā)、多芯片部署。

其次是產業(yè)生態(tài)構建的必要性。鄒德寶指出,測試是推動國產芯片規(guī)?;瘧玫年P鍵。通過與大模型的適配驗證其商用價值。測試為分級評估提供數據支撐,以芯片、模型適配性為核心,可提升模型響應速度,從而引導產業(yè)向高性能方向發(fā)展。另外,測試可以促進基礎設施升級。測試是新型基礎設施建設的前提,通過測試優(yōu)化,可以提升邊緣節(jié)點的模型壓縮率,同時減少推理精度損失率,進而降低邊緣推理成本。

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